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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1353894606
Titel Utilising unsupervised machine learning and IoT for cost-effective anomaly detection in multi-layer wire arc additive manufacturing / by Giulio Mattera, Emily W. Yap, Joseph Polden, Evan Brown, Luigi Nele, Stephen Van Duin
Person(en) Mattera, Giulio (Verfasser)
Yap, Emily W. (Verfasser)
Polden, Joseph (Verfasser)
Brown, Evan (Verfasser)
Nele, Luigi (Verfasser)
Duin, Stephen Van (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2501202102535.981185487622
DOI: 10.1007/s00170-024-14648-8
URL https://doi.org/10.1007/s00170-024-14648-8
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
DDC-Notation 006.31 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: The international journal of advanced manufacturing technology (Bd. 135, 24.10.2024, Nr. 5-6, date:11.2024: 2957-2974)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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