Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: jan and mehner
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1213735866 |
| Titel | Algorithmische Optimierung von Teststrukturen zur Charakterisierung von Mikrosystemen auf Waferebene / Petra Streit ; Gutachter: Jan Mehner ; Alexey Shaporin, Marco Dienel |
| Person(en) |
Streit, Petra (Verfasser) Shaporin, Alexey (Akademischer Betreuer) Dienel, Marco (Akademischer Betreuer) Mehner, Jan (Gutachter) |
| Verlag | Chemnitz : Universitätsbibliothek Chemnitz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Diplomarbeit, Chemnitz, Technische Universität Chemnitz |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-201001114 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter |
ANSYS ; Genetischer Algorithmus ; MEMS ; Neuronales Netz ; Optimierung ; Parameteridentifikation Wafer* ; Testen* ; Neuronales Netz* ; MEMS* ; ANSYS* ; Parameteridentifikation* ; Genetischer Algorithmus* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 621.381 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

