Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 sind von 9 bis 21:30 Uhr geöffnet. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933–1945 will be open from 9:00 to 21:30.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Versetzungen und inverse Pyramidendefekte in AlGaN/GaN-HEMT-Strukturen auf Si und deren Einfluss auf Material- und Bauelementeigenschaften / Sven Besendörfer ; Gutachter: Tobias Erlbacher, Robert Weigel ; Betreuer: Tobias Erlbacher
Person(en) Besendörfer, Sven (Verfasser)
Erlbacher, Tobias (Akademischer Betreuer)
Erlbacher, Tobias (Gutachter)
Weigel, Robert (Gutachter)
Organisation(en) FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag)
Verlag Erlangen : FAU University Press
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2022
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Besendörfer, Sven: Versetzungen und inverse Pyramidendefekte in AlGaN/GaN-HEMT-Strukturen auf Si und deren Einfluss auf Material- und Bauelementeigenschaften
Hochschulschrift Dissertation, Erlangen, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg (FAU), 2022
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus4-197395
DOI: 10.25593/978-3-96147-545-2
URL https://opus4.kobv.de/opus4-fau/frontdoor/index/index/docId/19739 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen FAU Forschungen, Reihe B, Medizin, Naturwissenschaft, Technik ; 41
Schlagwörter Schottky-Diode ; HEMT ; Versetzung <Kristallographie> ; Leckstrom ; Galliumnitrid ; Rasterkraftmikroskopie ; Materialcharakterisierung ; Elektrischer Durchbruch
DDC-Notation 621.381522 [DDC23ger]
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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