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Ergebnis der Suche nach: tit all "Algorithm Evaluation."
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1230307206 |
| Titel | An Evaluation of an Automated Detection Algorithm to Count Defects Present in X-Ray Topographical Images of SiC Wafers / by Ian C. Brazil, Patrick J. McNally, Lisa O’Reilly, Andreas Danilewsky, Turkka O. Tuomi, Aapo Lankinen, Antti Säynätjoki, Rolf Simon, Stanislav Soloviev, Larry B. Rowland, Peter M. Sandvik |
| Person(en) |
Brazil, Ian C. (Verfasser) McNally, Patrick J. (Verfasser) O’Reilly, Lisa (Verfasser) Danilewsky, Andreas (Verfasser) Tuomi, Turkka O. (Verfasser) Lankinen, Aapo (Verfasser) Säynätjoki, Antti (Verfasser) Simon, Rolf (Verfasser) Soloviev, Stanislav (Verfasser) Rowland, Larry B. (Verfasser) Sandvik, Peter M. (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2021032822152373000746 DOI: 10.1557/PROC-0994-F11-13 |
| URL | https://doi.org/10.1557/PROC-0994-F11-13 |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2007 |
| DDC-Notation | 620.1127 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: Materials Research Society: MRS online proceedings library (Bd. 994, 1.2.2011, Nr. 1, date:12.2006: 1-6) |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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