Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/964216345 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Fatigue behavior of sub-micron silver and copper films / Max-Planck-Institut für Metallforschung ... Vorgelegt von Ruth Schwaiger |
| Person(en) | Schwaiger, Ruth (Verfasser) |
| Verlag | Stuttgart : Max-Planck-Inst. für Metallforschung |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2002 |
| Umfang/Format | ca. 14,1 MB |
| Hochschulschrift | Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2001 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-10349 |
| URL |
http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2002/1034/pdf/dissertation.pdf http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2002/1034/index.html (Verlag) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; Nr. 112 |
| Schlagwörter |
Mikrosystemtechnik ; Silber ; Dünne Schicht ; Siliciumdioxid ; Materialermüdung ; Size-Effekt Kupfer ; Dünne Schicht ; Polyimide ; Materialermüdung ; Werkstoffschädigung ; Size-Effekt |
| Sachgruppe(n) | 35 Technik allgemein ; 36 Energie-, Maschinen-, Fertigungstechnik ; 37 Elektrotechnik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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