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Bücher
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Art des Inhalts Konferenzschrift, 2010, Çeşme
Titel Structural, syntactic, and statistical pattern recognition : joint IAPR international workshop ; proceedings / SSPR & SPR 2010, Cesme, Izmir, Turkey, August 18 - 20, 2010. Edwin R. Hancock ... (ed.)
Person(en) Hancock, Edwin R. (Herausgeber)
Organisation(en) SSPR (13 : 2010 : Çeşme) (Herausgebendes Organ)
International Association for Pattern Recognition (Herausgebendes Organ)
Verlag Berlin ; Heidelberg ; New York, NY : Springer
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2010
Umfang/Format XV, 758 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Online-Ausgabe: Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition
ISBN/Einband/Preis 978-3-642-14979-5 kart. : EUR 93.09 (freier Pr.), sfr 135.00 (freier Pr.)
Bestellnummer(n) 80020412
EAN 9783642149795
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Lecture notes in computer science ; 6218
Anmerkungen Literaturangaben
Schlagwörter Mustererkennung ; Kongress ; Çeşme <2010>
DDC-Notation 006.4 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 004 Informatik
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis
Inhaltstext

Frankfurt Signatur: 2010 A 61842
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2010 A 78510
Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.]
Bereitstellung in Leipzig




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