Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Titel The Characteristics of Binary Spike-Time-Dependent Plasticity in HfO2-Based RRAM and Applications for Pattern Recognition / by Zheng Zhou, Chen Liu, Wensheng Shen, Zhen Dong, Zhe Chen, Peng Huang, Lifeng Liu, Xiaoyan Liu, Jinfeng Kang
Person(en) Zhou, Zheng (Verfasser)
Liu, Chen (Sonstige)
Shen, Wensheng (Sonstige)
Dong, Zhen (Sonstige)
Chen, Zhe (Sonstige)
Huang, Peng (Sonstige)
Liu, Lifeng (Sonstige)
Liu, XiaoYan (Sonstige)
Kang, Jinfeng (Sonstige)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:1111-201704218494
DOI: 10.1186/s11671-017-2023-y
URL http://dx.doi.org/10.1186/s11671-017-2023-y (Open Access)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2017
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Nanoscale research letters (Bd. 12, 4.4.2017, Nr. 1, date:12.2017: 1-5)
Sachgruppe(n) 004 Informatik

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