Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=62*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1293686212 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Assessment and application of defect characterization via lifetime spectroscopy in high purity c-Si / Regina Post |
| Person(en) | Post, Regina (Verfasser) |
| Organisation(en) |
Fraunhofer IRB-Verlag (Verlag) Fraunhofer ISE, Freiburg (Herausgebendes Organ) |
| Verlag | Stuttgart, Germany : Fraunhofer Verlag |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2023] |
| Umfang/Format | 172 Seiten : Illustrationen ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Dissertation, Universität Konstanz, 2022 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-8396-1917-9 Broschur : EUR 84.00 (DE), EUR 86.40 (AT), CHF 129.40 (freier Preis) 3-8396-1917-3 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: fhg-ise_138 |
| EAN | 9783839619179 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Solar energy and systems research |
| Schlagwörter | Siliciumhalbleiter ; Dotierung ; Gallium ; Defektelektron ; Lebensdauerspektroskopie |
| DDC-Notation | 621.31244 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Weiterführende Informationen |
Inhaltstext Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2024 AA 32437
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2023 AA 52427
Bereitstellung in Leipzig |
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