Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

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Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. Die Ausstellungen des Deutschen Exilarchivs 1933-1945 sind von 9 bis 21:30 Uhr geöffnet. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00. The exhibitions of the German Exile Archive 1933–1945 will be open from 9:00 to 21:30.
 
 

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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Überwacht lernendes Bildauswertungssystem zur Erkennung von Oberflächenfehlern / Bertram Nickolay
Person(en) Nickolay, Bertram (Verfasser)
Verlag München ; Wien : Hanser
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1990
Umfang/Format 161 S. : Ill. ; 21 cm
Hochschulschrift Zugl.: Berlin, Techn. Univ., Diss., 1990
ISBN/Einband/Preis 978-3-446-16176-4 kart. : DM 49.00
3-446-16176-7 kart. : DM 49.00
Sprache(n) Deutsch (ger)
Beziehungen Produktionstechnik - Berlin ; 84
Anmerkungen Status nach VGG: vergriffen
Schlagwörter Oberflächenprüfung ; Texturanalyse ; Bildauswertung ; Überwachtes Lernen
Sachgruppe(n) 37 Elektrotechnik ; 36 Energie-, Maschinen-, Fertigungstechnik ; 35 Technik allgemein ; 28 Informatik, Datenverarbeitung
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: D 90/52580
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: SA 28615-84
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