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Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/gnd/4333578-0
Sachbegriff Rasterkraftmikroskop
Quelle Römpp (online); Physikal. Blätter 48(1992) Nr. 12 S. 1007
Erläuterungen Definition: Hochauflösendes Mikroskop zur Abbildung von Oberflächen und Messung atomarer Kräfte auf der Nanometerskala
Oberbegriffe Rastersondenmikroskop
DDC-Notation 502.82
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. Kantilever
    Rasterkraftmikroskop
Thema in 50 Publikationen
  1. Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop
    Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022
  2. Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop
    Wu, Yiting. - Erlangen : FAU University Press, 2022
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 10 Publikationen
  1. Optimierung und Objektivierung der DNA-Biegewinkelmessung zur Untersuchung der initialen Schadenserkennung von Glykosylasen im Rahmen der Basen-Exzisions-Reparatur
    Mehringer, Christian Felix. - Würzburg : Universität Würzburg, 2021
  2. Realisierung der Steuerungs-/Regelungsalgorithmen mittels FPGA für ein hochauflösendes und schnelles Rasterkraftmikroskop mit aktivem Cantilever
    Ahmad, Ahmad. - Ilmenau : TU Ilmenau, 2018
  3. ...





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