Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Servicezeiten in Frankfurt am Main ab 1. Dezember 2025: Montag bis Freitag 9–18 Uhr und Samstag 10–16 Uhr
Service hours in Frankfurt am Main from 1 December 2025: Monday to Friday 9:00-18:00 and Saturday 10:00-16:00
 
Neuigkeiten

Leichte Bedienung, intuitive Suche: Die Betaversion unseres neuen Katalogs ist online! → Zur Betaversion des neuen DNB-Katalogs

 
 

Ergebnis der Suche nach: dcs=50*



Treffer 3732 von 3790 < < > <



Sachbegriffe
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/gnd/4274473-8
Sachbegriff Rasterkraftmikroskopie
Quelle B 2006 (online)
Synonyme Kraftmikroskopie
AFM (Abkürzung)
Atomic force microscopy
RKM (Abkürzung)
SFM (Abkürzung)
Scanning force microscopy
Oberbegriffe Rastersondenmikroskopie
DDC-Notation 502.82
570.282
Systematik 21.3 Elektrizität, Magnetismus, Optik
Typ Allgemeinbegriff (saz)
Andere Normdaten LCSH: Atomic force microscopy
RAMEAU: Microscopie à force atomique
Untergeordnet 1 Datensatz
  1. High speed atomic force microscopy
    Rasterkraftmikroskopie
Thema in 450 Publikationen
  1. Nanoskalige Untersuchungen von Polymer-basierten Nanopartikeln in flüssiger Umgebung unter Verwendung von Rasterkraftmikroskopie und Plasmonen-verstärkter Raman-Spektroskopie
    Wang, Xinyue. - Jena : Friedrich-Schiller-Universität Jena, 2025
  2. Charakterisierung von Mikrokugeln auf der Basis von AFM-Oberflächenscans
    Oertel, Erik. - Ilmenau : TU Ilmenau, 2024
  3. ...
Maschinell verknüpft mit 140 Publikationen
  1. Friction measurement with single atom resolution
    Nam, Shinjae. - Regensburg : Universitätsbibliothek Regensburg, 2026
  2. Deciphering Self-Assembly Mechanisms and Chemical Reactions of Organic Building Blocks on Metal Surfaces by Chemical Bond Imaging
    Wiche, Miguel. - Gießen : Universitätsbibliothek Gießen, 2025
  3. ...





Treffer 3732 von 3790
< < > <


E-Mail-IconAdministration