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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1321019351
Titel Expanding the Analytical Capabilities of Scanning Electron Microscopy in the Detection of Backscattered Electrons / by S. V. Zaitsev, E. Yu. Zykova, E. I. Rau, A. A. Tatarintsev, V. A. Kiselevskii
Person(en) Zaitsev, S. V (Verfasser)
Zykova, E. Yu (Verfasser)
Rau, E. I. (Verfasser)
Tatarintsev, A. A (Verfasser)
Kiselevskii, V. A (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2024022011554293018586
DOI: 10.1134/S0020441223040097
URL https://doi.org/10.1134/S0020441223040097
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2023
DDC-Notation 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Instruments and experimental techniques (Bd. 66, 4.12.2023, Nr. 6, date:12.2023: 1058-1065)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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