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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1114283010 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Systematische Lebensdauer-Optimierung für hochintegrierte Systeme auf der Basis von Nano-Strukturen durch Stress-Optimierung und Selbstreparatur / Markus Ulbricht ; Betreuer: Heinrich T. Vierhaus |
| Person(en) |
Ulbricht, Markus (Verfasser) Vierhaus, Heinrich Theodor (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Cottbus : BTU Cottbus - Senftenberg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2014 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Ulbricht, Markus: Systematische Lebensdauer-Optimierung für hochintegrierte Systeme auf der Basis von Nano-Strukturen durch Stress-Optimierung und Selbstreparatur |
| Hochschulschrift | Dissertation, Cottbus, BTU Cottbus - Senftenberg, 2014 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:kobv:co1-opus4-31220 |
| URL | https://opus4.kobv.de/opus4-btu/frontdoor/index/index/docId/3122 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter |
Elektronisches Bauelement ; Lebensdauer ; Zuverlässigkeit Zuverlässigkeit* ; Transistor* ; VHDL* ; Schaltvorgang* ; Versorgungsspannung* ; Taktfrequenz* ; Integrierte Schaltung* ; Stress* ; MOS* ; Field programmable gate array* ; Lebensdauer* ; Nanostruktur* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 621.392 [DDC22ger]; 621.3815 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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