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Titel Test-retest reliability of the computer-assisted DIA-X-5 interview for mental disorders / by Jana Hoyer, Catharina Voss, Jens Strehle, John Venz, Lars Pieper, Hans-Ulrich Wittchen, Stefan Ehrlich, Katja Beesdo-Baum
Person(en) Hoyer, Jana (Verfasser)
Voss, Catharina (Verfasser)
Strehle, Jens (Verfasser)
Venz, John (Verfasser)
Pieper, Lars (Verfasser)
Wittchen, Hans-Ulrich (Verfasser)
Ehrlich, Stefan (Verfasser)
Beesdo-Baum, Katja (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2020090720143447787382
DOI: 10.1186/s12888-020-02653-6
URL https://doi.org/10.1186/s12888-020-02653-6 (Open Access)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2020
DDC-Notation 616.8 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: BMC psychiatry (Bd. 20, 5.6.2020, Nr. 1, date:12.2020: 1-16)
Sachgruppe(n) 610 Medizin, Gesundheit

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