Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1027184030 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium / Andreas Beyer. Betreuer: Kerstin Volz |
Person(en) |
Beyer, Andreas (Verfasser) Volz, Kerstin (Akademischer Betreuer) |
Verlag | Marburg : Philipps-Universität Marburg |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Beyer, Andreas: Hochaufgelöste transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen an Galliumphosphid auf Silizium |
Hochschulschrift | Marburg, Philipps-Universität Marburg, Diss., 2012 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:hebis:04-z2012-09054 |
URL | http://archiv.ub.uni-marburg.de/diss/z2012/0905 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
Schlagwörter | Raster-Transmissions-Elektronenmikroskop ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Silicium ; Galliumphosphid ; Epitaxie |
DDC-Notation | 530.4175 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
