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Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Monitoring Concepts for Degradation Effects in Digital CMOS Circuits / Nasim Pour Aryan. Betreuer: Doris Schmitt-Landsiedel. Gutachter: Walter Stechele ; Doris Schmitt-Landsiedel
Person(en) Pour Aryan, Nasim (Verfasser)
Schmitt-Landsiedel, Doris (Akademischer Betreuer)
Stechele, Walter (Akademischer Betreuer)
Verlag München : Universitätsbibliothek der TU München
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2015
Umfang/Format Online-Ressource
Hochschulschrift München, Technische Universität München, Diss., 2015
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20150729-1241463-1-6
URL http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20150729-1241463-1-6 (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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