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Titel Distinction between six- and fourfold coordinated silicon in SiO2 polymorphs via electron loss near edge structure (ELNES) spectroscopy / by T. Sharp, Z. Wu, F. Seifert, B. Poe, M. Doerr, E. Paris
Person(en) Sharp, T. (Verfasser)
Wu, Z. (Verfasser)
Seifert, Friedrich (Verfasser)
Poe, B. (Verfasser)
Doerr, M. (Verfasser)
Paris, E. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019053002424643581882
DOI: 10.1007/BF00202989
URL https://doi.org/10.1007/BF00202989
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1996
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Physics and chemistry of minerals (Bd. 23, Nr. 1, date:2.1996: 17-24)
Sachgruppe(n) 540 Chemie

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