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Artikel
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1362297828
Titel Testing for gate oxide short defects using the detectability interval paradigm
Person(en) Galliere, Jean-Marc (Verfasser)
Azais, Florence (Verfasser)
Comte, Mariane (Verfasser)
Renovell, Michel (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2504040400334.531568339576
DOI: 10.1515/itit-2013-1040
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 21.07.2014
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Information technology (Bd. 56, 2014, Nr. 4: 173-181. 9 S.)

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