Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1255113189 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop / Yiting Wu |
| Person(en) | Wu, Yiting (Verfasser) |
| Organisation(en) | FAU University Press ein Imprint der Universität Erlangen-Nürnberg. Universitätsbibliothek (Verlag) |
| Verlag | Erlangen : FAU University Press |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| Umfang/Format | xii, 142 Seiten : Illustrationen ; 24 cm, 500 g |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Wu, Yiting: Großflächige Topographiemessungen mit einem Weißlichtinterferenzmikroskop und einem metrologischen Rasterkraftmikroskop |
| Hochschulschrift | Dissertation, Friedrich-Alexander-Universität Erlangen-Nürnberg, 2021 |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-96147-513-1 Broschur : EUR 30.00 (DE), EUR 30.90 (AT) 3-96147-513-X |
| EAN | 9783961475131 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | FAU Studien aus dem Maschinenbau ; Band 390 |
| Schlagwörter | Messtechnik ; Erweiterung ; Nanometerbereich ; Mikrometerbereich ; Oberflächenstruktur ; Weißlichtinterferometer ; Mikroskop ; Rasterkraftmikroskop |
| DDC-Notation | 621.0287 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2023 A 30058 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2022 A 30827 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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