Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Der Multimedia-Zeitschriftenlesesaal und der Kartenlesesaal in Leipzig sind vom 30.10. bis 03.11. geschlossen. // The multimedia/periodical reading room and the map reading room in Leipzig are closed from 30.10 to 03.11.
 
Neuigkeiten Leipzig: Freitag, 31. Oktober 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek in Leipzig ist geschlossen. Die Ausstellungen des Deutschen Buch- und Schriftmuseums sind von 10 bis 18 Uhr geöffnet. // Friday, 31 October 2025: The German National Library in Leipzig will be closed. The exhibitions of the German Museum of Books and Writing will open from 10:00 to 18:00.
 
 

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Titel Modelling and Evalaution of the Bidirectional Surge Current Robustness of Si(-IGBT and -Diode), SiC(-MOSFETs and -JFET) and GaN(-HEMTs) Devices / Dominik Nehmer, Tim Ringelmann, Mark-M. Bakran
Person(en) Nehmer, Dominik (Verfasser)
Ringelmann, Tim (Verfasser)
Bakran, Mark-M. (Verfasser)
Verlag Bayreuth : Universität Bayreuth
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:703-epub-8396-6
DOI: doi:10.3390/en17174362
URL https://epub.uni-bayreuth.de/id/eprint/8396/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich)
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen In: Energies 2024, 17(17), 4362; https://doi.org/10.3390/en17174362
DDC-Notation 621.381528 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sachgruppe(n) 621.3 Elektrotechnik, Elektronik

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