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Titel Unsupervised machine learning applied to scanning precession electron diffraction data / by Ben H. Martineau, Duncan N. Johnstone, Antonius T. J. van Helvoort, Paul A. Midgley, Alexander S. Eggeman
Person(en) Martineau, Ben H. (Verfasser)
Johnstone, Duncan N. (Verfasser)
Helvoort, Antonius T. J. van (Verfasser)
Midgley, Paul A. (Verfasser)
Eggeman, Alexander S. (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format Online-Ressource : online resource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2019040719494793580218
DOI: 10.1186/s40679-019-0063-3
URL https://doi.org/10.1186/s40679-019-0063-3 (Open Access)
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2019
DDC-Notation 530.417 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation)
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced structural and chemical imaging (Bd. 5, 15.3.2019, Nr. 1, date:12.2019: 1-14)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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