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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1012914151 |
| Titel | Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models |
| Verlag | Boston, MA : Springer US |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:1111-20110619758 DOI: 10.1007/978-1-4615-3158-6 |
| URL | https://link.springer.com/book/10.1007/978-1-4615-3158-6 (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-1-461-53158-6 |
| EAN | 9781461531586 |
| Beziehungen | The Kluwer International Series in Engineering and Computer Science |
| Anmerkungen | Lizenzpflichtig |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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