Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/940852934 |
| Titel | Automatic test pattern generation for hierarchical sequential circuits / Heinrich T. Vierhaus ; Uwe Gläser. Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung mbH. [Verantwortl. für dieses H.: Raul Camposano] |
| Person(en) |
Vierhaus, Heinrich Theodor (Verfasser) Gläser, Uwe (Verfasser) |
| Verlag | Sankt Augustin : GMD |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1993 |
| Umfang/Format | 19 S. : graph. Darst. ; 30 cm |
| ISBN/Einband/Preis | kart. : DM 15.00 |
| Beziehungen | Gesellschaft für Mathematik und Datenverarbeitung: Arbeitspapiere der GMD ; Nr. 786 |
| Anmerkungen |
Literaturverz. S. 16 - 19 Status nach VGG: vergriffen |
| Sachgruppe(n) | 28 Informatik, Datenverarbeitung |
| Frankfurt |
Signatur: 1993 B 22999
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 1993 B 22999
Bereitstellung in Leipzig |

