Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1007119578 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Extensions of non-negative matrix factorization and their application to the analysis of wafer test data / vorgelegt von Reinhard Schachtner |
Person(en) | Schachtner, Reinhard (Verfasser) |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
Umfang/Format | IV, 149 S. : Ill., graph. Darst. ; 30 cm |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Schachtner, Reinhard: Extensions of non-negative matrix factorization and their application to the analysis of wafer test data |
Hochschulschrift | Regensburg, Univ., Diss., 2010 (Nicht für den Austausch) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
DDC-Notation | 519.56 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 510 Mathematik ; 600 Technik |
Frankfurt |
Signatur: 2010 B 27843 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
Leipzig |
Signatur: 2010 B 30959 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
