Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: schwachstellen
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/97052479X |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | FEM für die Mikroelektronik : Erfordernis, Theorie und Anwendung der finiten Element-Methode bei der Belastungs-, Schwachstellen- und Ausfallanalyse mikroelektronischer Aufbauten Sven Rzepka |
| Person(en) | Rzepka, Sven (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2003 |
| Umfang/Format | VII, 322 S. : Ill., graph. Darst. ; 24 cm |
| Hochschulschrift | Dresden, Techn. Univ., Habil.-Schr., 2003 |
| Schlagwörter | Mikroelektronik ; Schaltungsentwurf ; Verbindungstechnik ; Werkstoff ; Modalanalyse ; Finite-Elemente-Methode |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Frankfurt |
Signatur: 2004 A 11832
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2004 A 13494
Bereitstellung in Leipzig |
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