Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=621.3*
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1214302866 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Thermal and thermal-mechanical simulation for the prediction of fatigue processes in packages for power semiconductor devices / Tilo Poller ; Gutachter: Josef Lutz, Tore Undeland ; Betreuer: Josef Lutz |
| Person(en) |
Poller, Tilo (Verfasser) Lutz, Josef (Akademischer Betreuer) Lutz, Josef (Gutachter) Undeland, Tore (Gutachter) |
| Verlag | Chemnitz : Universitätsbibliothek Chemnitz - Chemnitz : Universitätsverlag der Technischen Universität Chemnitz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als: ISBN: 978-3-944640-33-4 |
| Hochschulschrift | Dissertation, Chemnitz, Technische Universität Chemnitz, 2014 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:ch1-qucosa-154320 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Leistungshalbleiter ; IGBT ; Halbleitergehäuse ; Verbindungstechnik ; Halbleitersubstrat ; Materialermüdung ; Lebensdauer ; Thermomechanische Eigenschaft ; Temperaturverhalten ; Finite-Elemente-Methode |
| DDC-Notation | 621.381046 [DDC22ger]; 621.381520284 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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