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Ergebnis der Suche nach: tit all "Machine Learning Techniques"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1270901230 |
| Titel | Machine learning-based techniques for fault diagnosis in the semiconductor manufacturing process: a comparative study / by Abubakar Abdussalam Nuhu, Qasim Zeeshan, Babak Safaei, Muhammad Atif Shahzad |
| Person(en) |
Nuhu, Abubakar Abdussalam (Verfasser) Zeeshan, Qasim (Verfasser) Safaei, Babak (Verfasser) Shahzad, Muhammad Atif (Verfasser) |
| Organisation(en) | SpringerLink (Online service) (Sonstige) |
| Umfang/Format | Online-Ressource : online resource. |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2022102121445754528916 DOI: 10.1007/s11227-022-04730-x |
| URL | https://doi.org/10.1007/s11227-022-04730-x |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2022 |
| DDC-Notation | 006.31 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Enthalten in: The journal of supercomputing (6.8.2022: 1-51) |
| Sachgruppe(n) | 004 Informatik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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