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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/970134215 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Segregation von Ga an Al-Korngrenzen / Max-Planck-Institut für Metallforschung, Stuttgart. Vorgelegt von Steffen Schmidt |
| Person(en) | Schmidt, Steffen (Verfasser) |
| Verlag | Stuttgart : Max-Planck-Inst. für Metallforschung |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2004] |
| Umfang/Format | Online-Ressource, ca. 7,4 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Schmidt, Steffen: Elektronenmikroskopische Untersuchungen zur Segregation von Ga an Al-Korngrenzen |
| Hochschulschrift | Zugl.: Stuttgart, Univ., Diss., 2003 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bsz:93-opus-16118 |
| URL |
http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2004/1611/pdf/diss.pdf http://elib.uni-stuttgart.de/opus/volltexte/2004/1611/index.html (kostenfrei zugänglich) |
| Beziehungen | Max-Planck-Institut für Metallforschung: Bericht ; Nr. 144 |
| Schlagwörter | Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Versprödung ; Strahlaufweitung ; Korngrenze ; Kristallseigerung |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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