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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/gnd/1298297370
Veranstaltung International Conference on Microelectronic Test Structures (35. : 2023 : Tokio)
Andere Namen IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures (35. : 2023 : Tokio)
International Conference on Microelectronic Test Structure (35. : 2023 : Tokio)
ICMTS (35. : 2023 : Tokio)
ICMTS Conference (35. : 2023 : Tokio)
35th International Conference on Microelectronic Test Structures, 35th ICMTS Conference, Tokyo, Japan, March 27-30, 2023
Quelle Homepage (Stand: 04.08.2023): http://icmts.if.t.u-tokyo.ac.jp/icmts.if.t.u-tokyo.ac.jp_8080/index.html
Zeit 27.03.2023-30.03.2023
Land Japan (XB-JP)
Geografischer Bezug Veranstaltungsort: Tokio
Beziehungen zu Organisationen Sponsor: Institute of Electrical and Electronics Engineers
Sponsor: IEEE Electron Devices Society
Typ Veranstaltung (vie)





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