Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1211828786 |
| Titel | Optimierung des XRD 3000PTS für Diffraktometrie und Reflektometrie an dünnen Schichten / Mirko Kehr ; Gutachter: Walter Hoyer, Hans-Jürgen Hinneberg ; Betreuer: Helmut Giegengack |
| Person(en) |
Kehr, Mirko (Verfasser) Giegengack, Helmut (Akademischer Betreuer) Hoyer, Walter (Gutachter) Hinneberg, Hans-Jürgen (Gutachter) |
| Verlag | Chemnitz : Universitätsbibliothek Chemnitz |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2004 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Hochschulschrift | Diplomarbeit, Chemnitz, Technische Universität Chemnitz |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:swb:ch1-200400621 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter |
Dünne Schicht ; Reflektometrie ; Röntgendiffraktometer ; Röntgendiffraktometrie ; Streifender Einfall ; Titancarbid Dünne Schicht* ; Reflektometrie* ; Röntgenstrahlung* ; Streifender Einfall* ; Titancarbid* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 530.4175 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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