Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1025182782 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Entwicklung und Anwendung neuartiger Präparationsverfahren für die Transmissionselektronenmikroskopie von dünnen Schichten, Nanopartikeln und Kristalldefekten / Benito Fernando Vieweg. Betreuer: Erdmann Spiecker |
| Person(en) |
Vieweg, Benito Fernando (Verfasser) Spiecker, Erdmann (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Erlangen : Universitätsbibliothek der Universität Erlangen-Nürnberg |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2012 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Vieweg, Benito Fernando: Entwicklung und Anwendung neuartiger Präparationsverfahren für die Transmissionselektronenmikroskopie von dünnen Schichten, Nanopartikeln und Kristalldefekten |
| Hochschulschrift | Erlangen, Universität Erlangen-Nürnberg, Diss., 2012 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:29-opus-34426 |
| URL | http://www.opus.ub.uni-erlangen.de/opus/volltexte/2012/3442/ (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Schlagwörter | Mikroskopie ; Werkstoff ; Durchstrahlungselektronenmikroskopie ; Nanopartikel ; D�nne Schicht ; Analytische Elektronenmikroskopie ; Elektronenmikrosko |
| DDC-Notation | 620.11299015502825 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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