Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1020200987 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy / Vasfi Burak Özdöl |
| Person(en) | Özdöl, Vasfi Burak (Verfasser) |
| Verlag | Kiel : Universitätsbibliothek Kiel |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2011 |
| Umfang/Format | Online-Ressource |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Özdöl, Vasfi Burak: Characterization of strained semiconductor structures using transmission electron microscopy |
| Hochschulschrift | Kiel, Christian-Albrechts-Universität, Diss., 2011 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:8-diss-68563 |
| URL | http://eldiss.uni-kiel.de/macau/receive/dissertation_diss_00006856 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Naturwissenschaften |
| DDC-Notation | 530.411 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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