Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/gnd/1350481378 |
| Veranstaltung | International Symposium on VLSI Design and Test (27. : 2023 : Pilani) |
| Andere Namen |
VDAT (27. : 2023 : Pilani) VLSI Design & Test Symposium (27. : 2023 : Pilani) VLSI Design and Test Symposium (27. : 2023 : Pilani) 27th International Symposium on VLSI Design and Test (VDAT-2023) |
| Zeit | 29.09.2023-01.10.2023 |
| Land | Indien (XB-IN) |
| Geografischer Bezug | Veranstaltungsort: Pilani |
| Typ | Veranstaltung (vie) |

