Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1245235397 |
| Titel | Introduction to spectroscopic ellipsometry of thin film materials : instrumentation, data analysis, and applications / Andrew T.S. Wee, Xinmao Yin, Chi Sin Tang |
| Person(en) |
Wee, Andrew T. S. (Verfasser) Yin, Xinmao (Verfasser) Tang, Chi Sin (Verfasser) |
| Organisation(en) | Wiley-VCH (Verlag) |
| Verlag | Weinheim, Germany : WILEY-VCH |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: [2022] |
| Umfang/Format | x, 187 Seiten : Illustrationen ; 25 cm, 408 g |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Wee, Andrew T. S.: Introduction to Spectroscopic Ellipsometry of Thin Film Materials |
| ISBN/Einband/Preis |
978-3-527-34951-7 Broschur : circa EUR 89.90 (DE) (freier Preis) 3-527-34951-0 |
| Bestellnummer(n) | Bestellnummer: 1134951 000 |
| EAN | 9783527349517 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Sachgruppe(n) | 530 Physik |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2023 A 39247 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2023 A 34754 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |
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