Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "Jan" and "Karsten"
![]() |
|
Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1346825459 |
Titel | In Situ X‐Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Atomic Layer Deposited Cerium Oxide on SiO 2: Substrate Influence on the Reaction Mechanism During the Early Stages of Growth |
Person(en) |
Morales, Carlos (Verfasser) Gertig, Max (Verfasser) Kot, Małgorzata (Verfasser) Alvarado, Carlos (Verfasser) Schubert, Markus Andreas (Verfasser) Zoellner, Marvin Hartwig (Verfasser) Wenger, Christian (Verfasser) Henkel, Karsten (Verfasser) Flege, Jan Ingo (Verfasser) |
Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2410311324021.143504760192 DOI: 10.1002/admi.202400537 |
URL | https://doi.org/10.1002/admi.202400537 |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 31.10.2024 |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Beziehungen | Enthalten in: Advanced materials interfaces (31.10.2024. 13 S.) |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
