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Ergebnis der Suche nach: "Jan" and "Karsten"



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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1346825459
Titel In Situ X‐Ray Photoelectron Spectroscopy Study of Atomic Layer Deposited Cerium Oxide on SiO 2: Substrate Influence on the Reaction Mechanism During the Early Stages of Growth
Person(en) Morales, Carlos (Verfasser)
Gertig, Max (Verfasser)
Kot, Małgorzata (Verfasser)
Alvarado, Carlos (Verfasser)
Schubert, Markus Andreas (Verfasser)
Zoellner, Marvin Hartwig (Verfasser)
Wenger, Christian (Verfasser)
Henkel, Karsten (Verfasser)
Flege, Jan Ingo (Verfasser)
Umfang/Format Online-Ressource (pdf)
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2410311324021.143504760192
DOI: 10.1002/admi.202400537
URL https://doi.org/10.1002/admi.202400537
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 31.10.2024
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Advanced materials interfaces (31.10.2024. 13 S.)

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