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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1055909370
Titel Fringe Pattern Analysis for Optical Metrology : Theory, Algorithms, and Applications / Manuel Servin ; J. Antonio Quiroga ; Moises Padilla
Person(en) Servín, Manuel (Verfasser)
Antonio Quiroga, J. (Verfasser)
Padilla, Moises (Verfasser)
Ausgabe 1., Auflage
Verlag Weinheim : Wiley-VCH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2014
Umfang/Format Online-Ressource : 220 schw.-w. Ill. (epub)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: ISBN: 978-3-527-41152-8
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-201408181944
ISBN/Einband/Preis 978-3-527-68110-5
3-527-68110-8
EAN 9783527681105
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen Lizenzpflichtig
Schlagwörter Metrologie ; Optische Messtechnik
DDC-Notation 530.8 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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