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Online Ressourcen
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Titel Semiconductor Applications in Metrology
Person(en) Göbel, Ernst O. (Verfasser)
Verlag Braunschweig/Wiesbaden : Vieweg
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 1999
Umfang/Format Online-Ressource
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:bvb:12-bsb00058110-0
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen Datenlieferant: Bavarian Digital Repository (BDR - Bayerische Staatsbibliothek Munich, BSB)





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