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Bücher
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Art des Inhalts Bildband
Konferenzschrift
Titel Manhattan picture worlds : Thomas Wrede ; [anlässlich der Ausstellung: Manhattan, Picture Worlds, 05. März - 25. April 2009, New Quarters Beck & Eggeling] / mit Texten von Christoph Schaden ; Marshall Berman. [Gestaltung Sylvia Handschuh. Übers. Stephanie Klco-Brosius ; Tanja Ohlsen]
Person(en) Wrede, Thomas (Illustrator)
Berman, Marshall (Mitwirkender)
Schaden, Christoph (Mitwirkender)
Handschuh, Sylvia (Herausgeber)
Organisation(en) Ausstellung Manhattan, Picture Worlds (2009 : Düsseldorf) (Herausgebendes Organ)
Beck & Eggeling New Quarters (Herausgebendes Organ)
Verlag Bielefeld ; Leipzig : Kerber
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2009
Umfang/Format 115 S. : überw. Ill. ; 32 cm
ISBN/Einband/Preis 978-3-86678-244-0 Pp. : EUR 48.00, ca. sfr 79.00 (freier Pr.)
978-3-86678-266-2 (Vorzugsausg.) GB. : EUR 300.00, sfr 495.00 (freier Pr.)
EAN 9783866782440
Sprache(n) Deutsch (ger), Englisch (eng)
Beziehungen Kerber photoart
Anmerkungen Text dt. und engl.
Schlagwörter Wrede, Thomas ; Fotografie ; Werbeplakat ; New York- Manhattan ; Bildband
DDC-Notation 779.47471092 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 770 Fotografie, Video, Computerkunst
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis
Inhaltstext

Frankfurt Signatur: 2009 C 143
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2009 B 13923
Bereitstellung in Leipzig




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