Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1003460348 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Interconnect reliability and test / Stefan Hillebrecht |
| Person(en) | Hillebrecht, Stefan (Verfasser) |
| Verlag | Tönning ; Lübeck ; Marburg : Der Andere Verl. |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2010 |
| Umfang/Format | VIII, 212 S. : Ill., graph. Darst. ; 25 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Freiburg (Breisgau), Univ., Diss., 2010 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-86247-014-3 kart. : EUR 43.90 |
| EAN | 9783862470143 |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Beziehungen | Design, test and verification of embedded systems ; Vol. 1 |
| Schlagwörter | MEMS ; CMOS ; Leiterbahn ; Zuverlässigkeit ; Mechanische Beanspruchung ; ATPG |
| DDC-Notation | 621.381044 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2010 A 79749
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2010 A 76468
Bereitstellung in Leipzig |
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