Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1250417120 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Hyperspectral imaging microscopy for atomic layer mapping of two-dimensional materials / Xingchen Dong ; Gutachter: Alexander W. Koch, Vasilis Ntziachristos ; Betreuer: Alexander W. Koch |
Person(en) |
Dong, Xingchen (Verfasser) Koch, Alexander W. (Akademischer Betreuer) Koch, Alexander W. (Gutachter) Ntziachristos, Vasilis (Gutachter) |
Verlag | München : Universitätsbibliothek der TU München |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2021 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Hochschulschrift | Dissertation, München, Technische Universität München, 2021 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:bvb:91-diss-20211112-1595791-1-3 |
URL | http://nbn-resolving.de/urn:nbn:de:bvb:91-diss-20211112-1595791-1-3 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Englisch (eng) |
Schlagwörter | Graphen ; Übergangsmetalldichalkogenide ; Schwarzer Phosphor ; Mikroskopie ; Hyperspektraler Sensor ; Bildverarbeitung |
DDC-Notation | 620.1127 [DDC23ger]; 621.367 [DDC23ger] |
Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau ; 621.3 Elektrotechnik, Elektronik ; 540 Chemie |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
