Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1372457631 |
| Titel | Accelerated impedance-based aging modeling for NCA/Gr-SiOx batteries and the impact of reduced test duration / Ahmed Chahbaz, Markus Schreiber, Jonas Rinner, Joaquín Mascareñas Hinojosa, Gereon Stahl, Markus Lienkamp, Dirk Uwe Sauer |
| Person(en) |
Chahbaz, Ahmed (Verfasser) Schreiber, Markus (Verfasser) Rinner, Jonas (Verfasser) Hinojosa, Joaquín Mascareñas (Verfasser) Stahl, Gereon (Verfasser) Lienkamp, Markus (Verfasser) Sauer, Dirk Uwe (Verfasser) |
| Verlag | Aachen : Universitätsbibliothek der RWTH Aachen |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2025 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2507260156284.802942179117 DOI: 10.18154/RWTH-2025-05327 |
| URL | https://publications.rwth-aachen.de/record/1013084 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Anmerkungen | In: 10.1016/j.xcrp.2025.102654 |
| DDC-Notation | 621.312424 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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