Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: dcs=620.5
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1206078278 |
| Titel | Critique des nanotechnologies / Thierno Guèye |
| Person(en) | Guèye, Thierno (Verfasser) |
| Verlag | New York : Peter Lang Inc., International Academic Publishers |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2020 |
| Umfang/Format | Online-Ressource, XIV, 150 Seiten : 8 Illustrationen (pdf) |
| Andere Ausgabe(n) |
Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 978-1-4331-6109-4 Erscheint auch als Online-Ausgabe: ISBN: 978-1-4331-6110-0 Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Critique de nanotechnologies |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2020030808590468373999 DOI: 10.3726/b15294 |
| URL | https://www.peterlang.com/view/product/82212?format=EPDF (Verlag) |
| ISBN/Einband/Preis | 978-1-4331-6108-7 |
| EAN | 9781433161087 |
| Sprache(n) | Französisch (fre) |
| Schlagwörter | Nanotechnologie |
| DDC-Notation | 620.5 [DDC23ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
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