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Titel Use of Electron Beam-Induced Current Technique to Characterize Transport Properties of Narrow-Gap-Energy Materials for IR Detection / by Samantha Bustillos Vasco, Nicolas Baier, Clément Lobre, Cyril Cervera, Nicolas Péré-Laperne, Axel Evirgen, Olivier Gravrand
Person(en) Bustillos Vasco, Samantha (Verfasser)
Baier, Nicolas (Verfasser)
Lobre, Clément (Verfasser)
Cervera, Cyril (Verfasser)
Péré-Laperne, Nicolas (Verfasser)
Evirgen, Axel (Verfasser)
Gravrand, Olivier (Verfasser)
Organisation(en) SpringerLink (Online service) (Sonstige)
Umfang/Format 1 Online-Ressource.
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2411261303126.166702260081
DOI: 10.1007/s11664-024-11307-2
URL https://doi.org/10.1007/s11664-024-11307-2
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2024
Sprache(n) Englisch (eng)
Beziehungen Enthalten in: Journal of electronic materials (Bd. 53, 10.7.2024, Nr. 10, date:10.2024: 5850-5857)
Sachgruppe(n) 530 Physik

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