Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: swiRef=042609976
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/967392896 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | ECR-Plasmadiagnostik im System Ar-H2-N2-TMS und Charakterisierung der entstehenden SiCxNy:H-Schichten / vorgelegt von Ines Dani |
| Person(en) | Dani, Ines (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2002 |
| Umfang/Format | 115 S. : graph. Darst. ; 21 cm |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Online-Ausgabe: Dani, Ines: ECR-Plasmadiagnostik im System Ar-H2-N2-TMS und Charakterisierung der entstehenden SiCxNy: H-Schichten |
| Hochschulschrift | Chemnitz, Techn. Univ., Diss., 2002 |
| Schlagwörter | ECR-Beschichten ; Plasmadiagnostik ; Siliciumcarbid ; Siliciumnitrid ; Dünne Schicht |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: H 2003 A 1242 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: H 2003 A 1242 Bestand: [Dieses Werk gibt es inhaltsgleich auch in digitaler Form.] Bereitstellung in Leipzig |

