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Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/1055880003
Titel A Practical Guide to Optical Metrology for Thin Films / Michael Quinten
Person(en) Quinten, Michael (Verfasser)
Ausgabe 1., Auflage
Verlag Weinheim : Wiley-VCH
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2012
Umfang/Format Online-Ressource : 120 schw.-w. Ill., 5 farb. Ill., 21 schw.-w. Tab. (epub)
Andere Ausgabe(n) Erscheint auch als Druck-Ausgabe: ISBN: 978-3-527-41167-2
Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Quinten, Michael: A practical guide to optical metrology for thin films
Persistent Identifier URN: urn:nbn:de:101:1-2014081610150
ISBN/Einband/Preis 978-3-527-66435-1
3-527-66435-1
EAN 9783527664351
Sprache(n) Englisch (eng)
Anmerkungen Lizenzpflichtig
Schlagwörter Dünne Schicht ; Schichtdicke ; Optische Messtechnik
DDC-Notation 530.4175 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 530 Physik ; 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau

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