Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/954338472 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator-, Halbleiter-Systemen : die Wachstumsmorphologie von CaF2-Si(111) / von Holger Pietsch |
| Person(en) | Pietsch, Holger (Verfasser) |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 1997 |
| Umfang/Format | ca. 3,5 MB |
| Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Pietsch, Holger: Rasterkraftmikroskopie-Untersuchungen an Isolator-, Halbleiter-Systemen |
| Hochschulschrift | Hannover, Univ., Diss., 1997 |
| Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:089-2354205574 |
| URL | http://edok01.tib.uni-hannover.de/edoks/e002/235420557.pdf |
| Schlagwörter | Silicium ; Kristallfläche ; Calciumfluorid ; Rasterkraftmikroskopie ; Online-Publikation |
| Sachgruppe(n) | 29 Physik, Astronomie |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

