Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1080521801 |
Art des Inhalts | Hochschulschrift |
Titel | Untersuchungen zur thermisch induzierten Festphasenkristallisation von Silizium-Dünnschichten durch Diodenlaserbestrahlung / Thomas Schmidt. Gutachter: Fritz Falk ; Frank Schmidl ; Detlef Klimm |
Person(en) |
Schmidt, Thomas (Verfasser) Falk, Fritz (Akademischer Betreuer) Schmidl, Frank (Akademischer Betreuer) Klimm, Detlef (Akademischer Betreuer) |
Verlag | Jena : Thüringer Universitäts- und Landesbibliothek Jena |
Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2015 |
Umfang/Format | Online-Ressource |
Andere Ausgabe(n) | Erscheint auch als Druck-Ausgabe: Schmidt, Thomas: Untersuchungen zur thermisch induzierten Festphasenkristallisation von Silizium-Dünnschichten durch Diodenlaserbestrahlung |
Hochschulschrift | Jena, Friedrich-Schiller-Universität Jena, Diss., 2015 |
Persistent Identifier | URN: urn:nbn:de:gbv:27-20151217-112123-5 |
URL | http://www.db-thueringen.de/servlets/DocumentServlet?id=27045 (Verlag) (kostenfrei zugänglich) |
Sprache(n) | Deutsch (ger) |
Schlagwörter | Silicium ; Amorpher Halbleiter ; Dünne Schicht ; Kristallisation ; Laserinduziertes Verfahren |
DDC-Notation | 537.6226 [DDC22ger] |
Sachgruppe(n) | 530 Physik |
Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |
