Katalog der Deutschen Nationalbibliothek

Neuigkeiten Donnerstag, 11. September 2025: Die Deutsche Nationalbibliothek öffnet wegen eines Beschäftigtentreffens an beiden Standorten erst um 15 Uhr. // Thursday, 11 September 2025: The German National Library will not open until 15:00 due to a staff meeting at both locations.
 
 

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Bücher
Link zu diesem Datensatz https://d-nb.info/983704260
Art des Inhalts Hochschulschrift
Titel Entwicklung eines Testchips zur Untersuchung der durch Packagingverfahren verursachten thermomechanischen Spannungen / vorgelegt von Sören Hirsch
Person(en) Hirsch, Sören (Verfasser)
Verlag Berlin : Logos-Verl.
Zeitliche Einordnung Erscheinungsdatum: 2007
Umfang/Format X, 130 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm
Hochschulschrift Zugl.: Magdeburg, Univ., Diss., 2006
ISBN/Einband/Preis 978-3-8325-1494-5 kart. : EUR 40.50 (DE), EUR 41.60 (AT), sfr 72.10
3-8325-1494-5 kart. : EUR 40.50 (DE), EUR 41.60 (AT), sfr 72.10
EAN 9783832514945
Sprache(n) Deutsch (ger)
Schlagwörter Verbindungstechnik ; Mechanische Spannung ; Testen ; Sensor ; Chip ; Siliciumbauelement
DDC-Notation 621.381046 [DDC22ger]
Sachgruppe(n) 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau
Weiterführende Informationen Inhaltsverzeichnis

Frankfurt Signatur: 2007 A 30578
Bereitstellung in Frankfurt
Leipzig Signatur: 2007 A 38269
Bereitstellung in Leipzig




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