Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
Ergebnis der Suche nach: "test"
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/1309057753 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Design and Test of Spintronic Compute-in-Memory Architectures / Christopher Münch ; Mehdi Baradaran Tahoori, Lorena Anghel |
| Person(en) |
Münch, Christopher (Verfasser) Tahoori, Mehdi Baradaran (Akademischer Betreuer) Anghel, Lorena (Akademischer Betreuer) |
| Verlag | Karlsruhe : KIT-Bibliothek |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2023 |
| Umfang/Format | Online-Ressource (pdf) |
| Hochschulschrift | Dissertation, Karlsruhe, Karlsruher Institut für Technologie (KIT), 2023 |
| Persistent Identifier |
URN: urn:nbn:de:101:1-2023110803585203862415 DOI: 10.5445/IR/1000163562 |
| URL | (kostenfrei zugänglich) |
| Sprache(n) | Englisch (eng) |
| Schlagwörter | Testen* ; CMOS* (*maschinell ermittelt) |
| DDC-Notation | 621.397 (maschinell ermittelte DDC-Kurznotation) |
| Sachgruppe(n) | 621.3 Elektrotechnik, Elektronik |
| Online-Zugriff | Archivobjekt öffnen |

