Katalog der Deutschen Nationalbibliothek
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| Link zu diesem Datensatz | https://d-nb.info/993446353 |
| Art des Inhalts | Hochschulschrift |
| Titel | Optimierung von Zuverlässigkeitsuntersuchungen, Prüfabläufen und Nacharbeitsprozessen in der Elektronikproduktion / Claudius Schimpf. Hrsg. von Klaus Feldmann |
| Person(en) | Schimpf, Claudius (Verfasser) |
| Verlag | Bamberg : Meisenbach |
| Zeitliche Einordnung | Erscheinungsdatum: 2009 |
| Umfang/Format | III, 162 S. : Ill., graph. Darst. ; 21 cm |
| Hochschulschrift | Zugl.: Erlangen, Nürnberg, Univ., Diss., 2009 |
| ISBN/Einband/Preis | 978-3-87525-290-3 kart. : EUR 45.00 |
| EAN | 9783875252903 |
| Sprache(n) | Deutsch (ger) |
| Beziehungen | Fertigungstechnik - Erlangen ; 203 |
| Schlagwörter | Elektroniktechnologie ; Elektronische Baugruppe ; Verbindungstechnik ; Zuverlässigkeit ; Prüftechnik ; Prozessoptimierung |
| DDC-Notation | 621.381548 [DDC22ger] |
| Sachgruppe(n) | 620 Ingenieurwissenschaften und Maschinenbau |
| Weiterführende Informationen | Inhaltsverzeichnis |
| Frankfurt |
Signatur: 2009 A 33415
Bereitstellung in Frankfurt |
| Leipzig |
Signatur: 2009 A 37747
Bereitstellung in Leipzig |
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